波長分散型蛍光X線分析装置の 原理と応用 分析の原理35 X線④ 森川敦史 （株式会社リガク） 図1 蛍光X線の発生 蛍光X線分析の用途はスクリーニングから工 程管理まで、主成分分析からppmのオーダーの 分析までと幅広くなっております。また近年では
COMSOL社が開催する、動画配信のオンラインセミナーです。ライブ配信の参加申し込みと開催済みの録画の視聴ができます。(※内容は英語です) COMSOL Learning Center 「X線回折装置（Empyrean）」ほか ただし、スペースの関係上、見学希望者は先着順に30名程度に限定させていただきます。 参 加 費：無料 申込方法：「X線回折装置を用いた分析講習会」参加申込書に必要事項をご記入の上、下記 2019/09/13 2018/03/15 1 薄膜構造評価用X線回折装置 ATX-E操作マニュアル 第1版 2003.07.07 スリットコリメーション光学系調整編 対応する測定 Out-of-Plane測定 薄膜測定 極点測定 配向・結晶性測定 注意点 注意 シャッターが開いている場合には絶対に 2012/06/07
2018/03/15 1 薄膜構造評価用X線回折装置 ATX-E操作マニュアル 第1版 2003.07.07 スリットコリメーション光学系調整編 対応する測定 Out-of-Plane測定 薄膜測定 極点測定 配向・結晶性測定 注意点 注意 シャッターが開いている場合には絶対に 2012/06/07 原理 X線の発生原理 結晶性物質に原子間距離と同程度の波長を持つX線を入射すると、各原子がX線を散乱します。この各散乱角に対して散乱強度を記録すると、その物質特有の散乱スペクトルが得られます。 回折角の位置・強度は結晶構造に特有で、回折図形から、主に無機化合物の同定ができ X線回折(I) 高田 昌樹 応用物理 71(3), 343-347, 2002 Selected Ar ticle 70 No.33 August 2007 Selected Article 一般論文 X線ガイドチューブの開発 大澤 澄人 ガラスなどの滑らかな表面に極低角度で入射したX線は， 強度を保ったまま反射する（全反射）。このX線の全反射現 象を利用して，高
26 8 1 東京大学物性研究所（〒277 8581 千葉県柏市柏の葉 51 ） 2 科学技術振興機構さきがけ（〒332 0012 埼玉県川口市本町4 1 8） ―()― J. Vac. Soc. Jpn. ただ、今回は照射するのが単色X線でありλは固定されている。さらに試料は細かく砕かれた結晶の粒が 様々な方向を向いている状態なので、入射単色X線とある特定の角度関係になった面からのみ回折線が生じ、記録するフィルムには 同心円が写る。 粉末X線回折法で鉱物が同定され,その結果を他の用途のためにエクセルで処理することを念頭に,X線回折パターンをエクセルのグラフシートに表示するプログラムを開発した.このプログラムは,MS-ExcelのVBA(Visual Basic for Application)で動く.作業は,(1)X線回折計からエクセルのワークシートヘのデータの 環境リサーチ株式会社は､アスベスト、シックハウス、におい、カビ、騒音振動調査対策工事、作業環境測定、放射能測定、外壁診断などの調査・分析やコンサルティングなどを行っています。 2．北海道能開大のx線回折装置 x線回折法は結晶の方位や配向性あるいは結晶の 内部歪みなど原子の並び方に関係する情報が得られ るために，材料特性評価技術の1つとして古くから 重要視され利用されてきた。本校所有のx線回折装 薄膜構造評価用X線回折装置 ATX-E操作マニュアル 第1版 2003.07.07 スリットコリメーション光学系調整編 対応する測定 Out-of-Plane測定 薄膜測定 極点測定 配向・結晶性測定 注意点 注意 シャッターが開いている場合には絶対に扉を開けないでくださ い。
少ないので便利である。しかしX線発生装置を同じ電流 電圧で使う場合は,X線 の強度はCuKα 線の方が4, 5倍強い。さらに格子定数が大きくなると,回折斑点の 間隔が小さくなるので,波 長の短いMoKα 線では隣の 回折斑点と重なって測定できない場合もある
X線回折による金属のさびの解析 No,98039 キーワード：さび、X線回折、大気暴露 はじめに 「さび」と呼ばれる大気中で生じる金属材料 の腐食生成物は、材料が曝されていた環境によ って結晶構造が異なります。このさびの結晶構 X線回折は、セメントとクリンカおよびそれらの水和生成物を調査するための最も重要な分析ツールの1つです。粉末回折によりセメントの相組成に関する重要な情報を得ることができ、リートベルト解析法により定量分析を行うことが X線回折の原理については「物理学実験」のテキストを参照して欲しい[1]。 粉末X線回折におけるBragg角θ とMiller指数(hkl)の関係は、各晶系で sin 2θ = λ2 4a2 (h2 +k +l2) （立方晶） (1) sin2 θ = λ2 4 (h2 +k2 a2 + l2 c2) （正方晶 sin X 線回折顕微法の名称に関しては，この分野のコミュ ニティーでも統一が取れていないのが現状である。2005 年に開かれたX 線コヒーレンス国際ワークショップにお いても，本手法の名称に関する議論が行われた。Kirzは この手法を（x ア X線回折装置の測定条件を適切な条件に設定する。溶解残さ分析用試 料を試料保持板に詰め、X 線回折装置のゴニオメーターに装着した後、 定性分析を行い、クリソタイルの存在を示す回折角（2θ）12.1 又は 24.3 の回折線の有無を X線回折は固体物理で重要な役割を果たす。ここでは、ディフラクトメータによるX線回折の解析の基礎を説明する。ディフラクトメータでは でスキャンしていき、Braggの回折条件を満たす角度のときに回折によるピークが確認できる（下図）。